當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > > HCSGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
簡(jiǎn)要描述:應(yīng)用范圍:應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
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應(yīng)用范圍:應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
zui小讀數(shù):0.1℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時(shí))
±2℃(在200~300℃時(shí))
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)
成都華誠儀器有限公司
經(jīng)營(yíng)地址:成都市金牛區(qū)洞子口路168號(hào)源上金府3棟1單元1703號(hào)
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